第六屆先進制造技術與電子信息國際學術會議（AMTEI 2026）將于2026年9月11日-13日與中國·天津召開。本次會議主要圍繞先進制造技術與電子信息的最新研究領域，為來自國內外高等院校、科學研究所、企事業(yè)單位的專家、教授、學者、工程師等提供一個分享專業(yè)經驗，擴大專業(yè)網絡，面對面交流新思想以及展示研究成果的國際平臺，探討本領域發(fā)展所面臨的關鍵性挑戰(zhàn)問題和研究方向，以期推動該領域理論、技術在高校和企業(yè)的發(fā)展和應用，也為參會者建立業(yè)務或研究上的聯(lián)系以及尋找未來事業(yè)上的全球合作伙伴。
大會誠摯邀請您投遞相關的研究工作，在會議上展示相關的科研成果、分享前沿的思想看法，一同探討相關的學術難題。
征稿主題廣泛，交叉學科可投 | SPIE出版，已經連續(xù)5屆見刊檢索，非常穩(wěn)定！
第六屆先進制造技術與電子信息國際學術會議（AMTEI 2026）
2026 6th International Conference on Advanced Manufacturing Technology and Electronic Information
2026年9月11日-9月13日 ，中國·天津
會議官網：www.amtei.org【投稿參會】
最終截稿時間：見官網
早鳥優(yōu)惠：2026年7月1日前投稿享早鳥優(yōu)惠！
主辦單位：天津理工大學
收錄檢索：EI Compeddex，Scopus雙檢索
參會形式：報告 | 海報 | 聽眾
往屆情況：
AMTEI 2021：已見刊檢索！遞交出版后2個月見刊，見刊后1個月檢索；
AMTEI 2022：已見刊檢索！遞交出版后2個月見刊，見刊后2個月檢索；
AMTEI 2023：已見刊檢索！遞交出版后3個月見刊，見刊后1個月檢索；
AMTEI 2024：已見刊檢索！遞交出版后3個月見刊，見刊后13天檢索；
AMTEI 2025：已見刊檢索！遞交出版后3.5個月見刊，見刊后1.5個月檢索！
【大會組委】
| 大會主席 | ||
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趙金石 教授 天津理工大學 |
魏軍 教授 哈爾濱工業(yè)大學（深圳）、柔性印刷電子技術中心 |
Gordana Jovanovic Dolecek 教授 墨西哥國家天體物理、光學和電子研究所 |
| 程序委員會主席 | ||
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Nader Asnafi 教授 呂勒奧理工大學、浙江創(chuàng)格科技股份有限公司 |
張海偉 副教授 天津理工大學 |
賀婕 天津理工大學 |
| 出版主席 | |
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楊正春 教授 天津理工大學 |
王慧泉 教授 天津工業(yè)大學 |
| 出版共同主席 | ||
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Zoran Bojkovic 教授 貝爾格萊德大學 |
Chunhui Yang 教授 西悉尼大學
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Azah Kamilah Muda 副教授 馬來西亞馬六甲技術大學 |
| 組織委員會主席 | ||
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程文播 研究員 中國科學院 |
劉慧敏 教授 天津理工大學 |
Tan Chan Sin 馬來西亞玻璃市大學 |
【征稿主題】
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機械設計、制造技術及其性能分析 |
電子信息技術 |
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機電一體化 智能駕駛、防撞與車載系統(tǒng) 激光加工技術 3D打印技術 機械設計、制圖與加工 機器人、人工智能與路徑規(guī)劃控制 人機交互、智能仿生與感知 精準作業(yè)、機械臂與智能化 先進材料與智能制造技術 工業(yè)技術、互聯(lián)網與工業(yè)5.0 自動化、過程自控和運行測控 自適應、傳動與運行控制 數(shù)控技術、數(shù)控機床與編程 計算機輔助設計與制造 計算機集成制造系統(tǒng) 精密加工與特種加工技術 |
柔性制造系統(tǒng) 虛擬制造與控制 監(jiān)測檢測與故障監(jiān)控系統(tǒng) 結構設計、穩(wěn)定性及優(yōu)化 建模、仿真與設計 焊接工藝、無損表面與涂層 材料成型及加工 疲勞壽命預測與安全可靠性 誤差重構、精度調整 自動監(jiān)控、保護與調節(jié) 無損檢測與表面技術 加工過程的動力學分析 振動、噪聲分析與控制 塑性變形、斷裂與損傷力學 摩擦、磨損 |
半導體材料與器件 集成電路設計 電子系統(tǒng)與封裝技 電磁、濾波器與微波天線 移動計算和邊緣計算 硬件設計、嵌入式與系統(tǒng) 電子、集成電路和系統(tǒng) 光電芯片 電子設備、信號圖像與信息 電路仿真設計、電路與系統(tǒng) 遙控、無人機與通信設備 電子技術 算法與路徑規(guī)劃、避障避險 雷達與通信工程 GPS導航與GIS系統(tǒng) 天線與微波技術 信息的獲取、交換與處理 信號傳輸與處理 圖像識別、處理、增強與修復 光學成像、遙感成像 遙感測繪與感測技術 路由器故障診斷與排除 傳感器、元器件與控制 |
轉換器、控制及電源 通信光纖、電纜及綜合布線 變頻、調速與節(jié)能 通信與網絡 智能計算與模式識別 航空和電子系統(tǒng) 光刻技術 光電檢測及技術應用 光電集成器件及應用 光通信和光計算 電子材料與元器件 通訊安全和隱私管理 密碼學、編碼與信息學 大數(shù)據、數(shù)據挖掘處理與算法 傳感器、元器件與控制 傳感器、信息處理與測量控制 代碼滲透測試與參數(shù)設置 YOLO、SSD等目標檢測算法 蟻群、遺傳等常見算法 智能控制、測量與信號系統(tǒng) 決策管理與資源配置 基于web的... |
【論文出版】
所有的投稿都必須經過2-3位組委會專家審稿，經過嚴格的審稿之后，最終所錄用的論文將以會議論文集形式遞交SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版。見刊后由出版社提交至EICompendex和Scopus 收錄檢索。
【投稿說明】
1.論文需按照模板排版，不得少于5頁；
2.論文必須是英文稿件，且未在國內外學術期刊或會議發(fā)表過，如需中→英翻譯：【艾思編譯】
3.投稿論文全文重復率不超過30%，涉嫌抄襲的論文將不被出版；作者可通過【AI學術誠信檢測平臺】進行人工智能生成內容檢測、文獻相似性檢測、圖像完整性篩查等等！
【參會方式】
所有參會人員均可申請報告或海報展示，可開具證明，點擊【參會報名】
1、作者參會：一篇錄用文章允許一名作者免費參會；
2、口頭演講：申請口頭報告，時間為15分鐘，摘要投稿可申請；
3、海報展示：申請海報展示，A1尺寸，彩色打印；
4、聽眾參會：不投稿僅參會，也可申請演講及展示。
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